发布日期:2022-03-15 浏览:743 次
高压介损试验常规10kV试验方法存在的问题
目前,在电气试验中主要都是通过10kV下的介损试验测量(tanδ)的大小来发现设备的缺陷。可是,10kV的试验电压远低于设备的运行电压,不能真实反映设备运行时的状况。良好的绝缘在允许的电压范围内,无论电压上升或下降,其介损值均无明显变化。但现场试验数据显示,不同绝缘介质设备的介质损耗(tanδ)值会随着电压的升高而变大或变小。所以在设备运行电压下做介质损耗测试才能真实反映设备的绝缘情况。
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